供应 ICT测试仪 二手二手ICT18FE在线测试仪

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新世代多功能组装电路板测试机-二手ICT18FE

二手ICT518FE在线测试仪规格参数表

项目
 详细参数
 
测试点数
 标准配备256点,可以每片开关板64点或128点扩充至1792点
 
大型主机(8u)可以每片关开板256点扩充至3584点
 
测试步骤
 步骤 12288步骤,可依需求扩充
 
测试时间
 开路/短路测试每1000点约1Sec(Typical DUT)
 
元件测试每一元件约0.6mSec至30mSec(Typical DUT)
 
测试范围
 电阻0.1Ω至40MΩ电晶体/二极体 0.1V至9.99V
 
电容1.0PF至100mF Zener Diode标准,0.1V至9.99V,选配HV,0.1V至48V
 
电感1.0UH至60H
 
隔离点电路
 隔离点自动选择,每测试步骤5点
 
测试值上下限设定范围
 上限+1%至999%下限-1%至-99%
 
可测电路板尺寸
 标准配备 420mm(宽)×300mm(深)×100mm(高)
 
选购配备 500mm(宽)×350mm(深)×130mm(高),更大尺寸基板可依需求订做.
 
主控制电脑
 Pentium4等级以上PC
 
监视器
 Super VGA低辐射CRT彩色监视器或彩色液晶显示器
 
记忆设备
 ��碟机一台,80GB以上硬式磁碟机一台
 
列印机
 标准配备40行双色列印机
 
*其它选购配备
 WindowsXP作业系统环境,多国语言使用界面(英文、中文、日文）
 

新世代多功能组装电路板测试机-二手ICT18FE

二手ICT518FE在线测试仪规格参数表

项目
 详细参数
 
测试点数
 标准配备256点,可以每片开关板64点或128点扩充至1792点
 
大型主机(8u)可以每片关开板256点扩充至3584点
 
测试步骤
 步骤 12288步骤,可依需求扩充
 
测试时间
 开路/短路测试每1000点约1Sec(Typical DUT)
 
元件测试每一元件约0.6mSec至30mSec(Typical DUT)
 
测试范围
 电阻0.1Ω至40MΩ电晶体/二极体 0.1V至9.99V
 
电容1.0PF至100mF Zener Diode标准,0.1V至9.99V,选配HV,0.1V至48V
 
电感1.0UH至60H
 
隔离点电路
 隔离点自动选择,每测试步骤5点
 
测试值上下限设定范围
 上限+1%至999%下限-1%至-99%
 
可测电路板尺寸
 标准配备 420mm(宽)×300mm(深)×100mm(高)
 
选购配备 500mm(宽)×350mm(深)×130mm(高),更大尺寸基板可依需求订做.
 
主控制电脑
 Pentium4等级以上PC
 
监视器
 Super VGA低辐射CRT彩色监视器或彩色液晶显示器
 
记忆设备
 ��碟机一台,80GB以上硬式磁碟机一台
 
列印机
 标准配备40行双色列印机