FE测试仪 二手ICT18FE ICT 在线测试仪
2013/9/23 9:40:24 点击：
FE测试仪,二手ICT18FE,ICT,在线测试仪
项目
详细参数
测试点数
标准配备:256点,可以每片开关板64点或128点扩充至1792点
大型主机(8u):可以每片关开板256点扩充至3584点
测试步骤
最大步骤: 12288步骤,可依需求扩充
测试时间
开路/短路测试:每1000点约1Sec(Typical DUT)
元件测试:每一元件约0.6mSec至30mSec(Typical DUT)
测试范围
电阻:0.1Ω至40MΩ电晶体/二极体: 0.1V至9.99V
电容:1.0PF至100mF Zener Diode:标准,0.1V至9.99V,选配HV,0.1V至48V
电感:1.0UH至60H
隔离点电路
隔离点自动选择,每测试步骤5点
测试值上下限设定范围
上限:+1%至999%下限:-1%至-99%
可测电路板尺寸
标准配备: 420mm(宽)×300mm(深)×100mm(高)
选购配备: 500mm(宽)×350mm(深)×130mm(高),更大尺寸基板可依需求订做.
主控制电脑
Pentium4等级以上PC
监视器
Super VGA低辐射CRT彩色监视器或彩色液晶显示器
记忆设备
3.5" 1.44MB,磁碟机一台,80GB以上硬式磁碟机一台
列印机
标准配备:40行双色列印机
*其它选购配备
详细参数
测试点数
标准配备:256点,可以每片开关板64点或128点扩充至1792点
大型主机(8u):可以每片关开板256点扩充至3584点
测试步骤
最大步骤: 12288步骤,可依需求扩充
测试时间
开路/短路测试:每1000点约1Sec(Typical DUT)
元件测试:每一元件约0.6mSec至30mSec(Typical DUT)
测试范围
电阻:0.1Ω至40MΩ电晶体/二极体: 0.1V至9.99V
电容:1.0PF至100mF Zener Diode:标准,0.1V至9.99V,选配HV,0.1V至48V
电感:1.0UH至60H
隔离点电路
隔离点自动选择,每测试步骤5点
测试值上下限设定范围
上限:+1%至999%下限:-1%至-99%
可测电路板尺寸
标准配备: 420mm(宽)×300mm(深)×100mm(高)
选购配备: 500mm(宽)×350mm(深)×130mm(高),更大尺寸基板可依需求订做.
主控制电脑
Pentium4等级以上PC
监视器
Super VGA低辐射CRT彩色监视器或彩色液晶显示器
记忆设备
3.5" 1.44MB,磁碟机一台,80GB以上硬式磁碟机一台
列印机
标准配备:40行双色列印机
*其它选购配备
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